講述不同環(huán)境下的連接器測(cè)試內(nèi)容
當(dāng)我們對(duì)連接器進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候,除了要考慮它的機(jī)械性能測(cè)試以外,還要考慮它的環(huán)境性能測(cè)試,不同環(huán)境下對(duì)于連接器的測(cè)試目的也會(huì)不同,下面仁昊偉業(yè)科技連接器工程師就來(lái)為您講解下五種不同環(huán)境下對(duì)連接器進(jìn)行測(cè)試方面的內(nèi)容。
第一點(diǎn):冷熱沖擊測(cè)試
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-32
目的:評(píng)估連接器在急速的大溫差變化下,對(duì)于其功能品質(zhì)的影響。
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-31
目的:評(píng)估連接器在經(jīng)過(guò)高溫高濕環(huán)境儲(chǔ)存后對(duì)連接器性能的影響。
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-17
目的:評(píng)估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時(shí)間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化。
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-26
目的:評(píng)估連接器,端子,鍍層耐鹽霧腐蝕能力 。
參考標(biāo)準(zhǔn):EIA-364-65
目的:評(píng)估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對(duì)其性能的影響。
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