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注:此TP-23早期頒布EIA RS-364
1.0 TP-23低等位接觸電阻
2.0 目的
本方法是介紹一種在標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)量一配套端子,在絕緣層沒有被破壞或熔化的情況下的接觸電阻。
3.0 樣品準(zhǔn)備
3.1 測(cè)試樣品由一對(duì)配合的端子組成,如一個(gè)錫腳和一焊座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的配合端子。
3.2 用規(guī)格中所說明的電線按圖2A所示進(jìn)行聯(lián)機(jī)﹐端子配合如圖2B所示﹒
3.3 測(cè)試樣品應(yīng)組裝成能進(jìn)行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何其它方法強(qiáng)行安裝,若強(qiáng)行安裝會(huì)影響相配端子內(nèi)接觸面的強(qiáng)力。
4.0 測(cè)試方法
4.1 測(cè)試儀器
測(cè)試儀器包括﹕
4.1.1滿偏量程精確至±2%或確切讀數(shù)精確至±10%的合適范圍的毫伏表。
4.1.2一個(gè)低等位回路具備傳遞和準(zhǔn)確測(cè)量最大電流100mA和最大開路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路(此回路輸出測(cè)試電流為1mA),對(duì)于交流測(cè)量﹐此頻率不超過2KHz﹒
4.1.3測(cè)量可用直流或交流電進(jìn)行﹐但無論如何﹐應(yīng)當(dāng)控制直流測(cè)試。
4.2測(cè)試步驟
4.2.1連接測(cè)試樣品T1和T2。
4.2.2在測(cè)試回路正方向上加電壓﹐并紀(jì)錄電壓降包括電壓Vf和電流If的極性。
4.2.3在測(cè)試回路反方向上加電壓﹐并紀(jì)錄電壓降包括電壓Vr和電流Ir的極性。
4.2.4接觸電阻等于正反方向壓降的差的絕對(duì)值除以正向電流和反向電流絕對(duì)值之和,公式如下﹕
R=|Vf-Vr |/(|If|+| Ir |)
其中﹕ R=接觸電阻 單位﹕奧姆
Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特
Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特
If =正向測(cè)試電流 單位﹕安培
Ir =反向測(cè)試電流 單位﹕安培
4.2.5 預(yù)防措施
4.2.5.1測(cè)試前或測(cè)試期間﹐測(cè)試樣品加壓不得超過20mV。
4.2.5.2 導(dǎo)線總電阻(包括接觸端和主要電阻)應(yīng)不少于100mΩ。
4.2.5.3 在任何預(yù)先狀態(tài)和環(huán)境暴露之間低壓電阻測(cè)試完成前﹐不可以中斷端子接觸。
5.0 細(xì)節(jié)說明
當(dāng)按規(guī)格進(jìn)行測(cè)試時(shí),下列細(xì)節(jié)要被說明﹕
(a) 被測(cè)樣品數(shù)目﹔
(b) 導(dǎo)線的類型和尺寸﹔
(c) 電阻的要求﹔
(d) 尺寸Y-Y(見圖2A)
6.0 參考文件
數(shù)據(jù)窗體應(yīng)包括﹕
(a)測(cè)試標(biāo)題﹔
(b)樣品描述﹔
(c)所用測(cè)試儀器﹔
(d)測(cè)試步驟﹔
(e)評(píng)估和觀測(cè)﹔
(f)測(cè)試日期和操作者姓名﹔
(g)樣品分析。
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