講述不同環(huán)境下的連接器測試內(nèi)容
當我們對連接器進行測試的時候,除了要考慮它的機械性能測試以外,還要考慮它的環(huán)境性能測試,不同環(huán)境下對于連接器的測試目的也會不同,下面仁昊偉業(yè)科技連接器工程師就來為您講解下五種不同環(huán)境下對連接器進行測試方面的內(nèi)容。
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第一點:冷熱沖擊測試
參考標準:EIA-364-32
目的:評估連接器在急速的大溫差變化下,對于其功能品質(zhì)的影響。
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參考標準:EIA-364-31
目的:評估連接器在經(jīng)過高溫高濕環(huán)境儲存后對連接器性能的影響。
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參考標準:EIA-364-17
目的:評估連接器暴露在高溫環(huán)境中于規(guī)定時間后端子和絕緣體性能是否發(fā)生變化。
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參考標準:EIA-364-26
目的:評估連接器,端子,鍍層耐鹽霧腐蝕能力 。
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參考標準:EIA-364-65
目的:評估連接器暴露在不同濃度混合氣體中的耐腐蝕能力及對其性能的影響。
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